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崗位職責?：
1. 固件開發(fā)與維護?：負責老化測試設備（老化試驗箱、老化板）的ARM架構(gòu)固件開發(fā)（基于Cortex-M0/M4系列），完成代碼編寫、調(diào)試及版本維護。
2. 硬件協(xié)同開發(fā)?：協(xié)助設備部門驗證老化板功能正確性，包括MCU與外設（如I2C、SPI、UART、USB等接口）的驅(qū)動開發(fā)與調(diào)試。
3. 測試與優(yōu)化?：設計并執(zhí)行固件測試方案，確保老化測試的穩(wěn)定性和準確性；參與低功耗優(yōu)化及性能提升。
4. 工具與協(xié)議支持?：使用STM32CubeIDE等開發(fā)工具，熟悉Timer等模塊配置，支持測試協(xié)議（如自定義老化算法）的實現(xiàn)。
5. 文檔編寫?：撰寫技術(shù)文檔，包括設計說明、測試報告及問題排查記錄。
任職要求?：
1. 經(jīng)驗與學歷?：
本科及以上學歷，電子、計算機、自動化等相關專業(yè)；
1年以上嵌入式固件開發(fā)經(jīng)驗，有存儲芯片測試設備或工業(yè)自動化領域經(jīng)驗者優(yōu)先。
2. 技術(shù)能力?：
精通Cortex-M0/M4?（如STM32）固件開發(fā)，熟練使用STM32CubeIDE等工具鏈；
熟悉MCU外設接口（?I2C/SPI/UART/USB/Timer?）及底層驅(qū)動開發(fā)；
具備硬件調(diào)試能力，能閱讀原理圖并使用示波器、邏輯分析儀等工具。
3. 加分項?：
了解存儲芯片（如DRAM/NAND Flash）老化測試原理或相關協(xié)議；
有RTOS（如FreeRTOS）開發(fā)經(jīng)驗或低功耗設計能力。
4. 軟性要求?：
良好的團隊協(xié)作和溝通能力，能適應跨部門合作；
邏輯嚴謹，具備獨立解決問題和文檔編寫能力。